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电子半导体X-Ray检测技术如何推动芯片良率提升？
2025-06-20在半导体制造领域，芯片良率是衡量生产效率与产品质量的核心指标，对企业的成本控制、市场竞争力有着深远影响。随着芯片制造工艺向纳米级不断迈进，制程复杂度呈指数级增长，传统检测手段愈发难以满足高精度检测需求。在此背景下，电子半导体 X-Ray 检测技术脱颖而出，凭借其独特优势，成为提升芯片良率的关键技术支撑。X-Ray 检测技术原理及系统构成X-Ray 检测技术基于 X 射线的穿透特性工作。当 X 射线穿透半导体材料时，不同材质对 X 射线吸收程度各异，导致探测器接收到的射线强度产···